探针性能参数测试分析
利用N5244A PNAX 和PLTS 物理层分析软件，能够对探针的性能做全方位的测试和分析，从而作为判断探针质量的一个依据。首先利用PNAX和电子校准件，测试探针经过短路后的S11参数。再利用PLTS 分析软件以及AFR校准技术，得到探针的4 个S参数、时域阻抗参数和响应时间参数。下面是分别测试1号探针和2 号探针后，再用PLTS软件转换，得到二个探针的特性曲线。
1.探针的频域反射特性。图1是1号针的S11，图2 是2 号针的S11。
图1    1 号针的S11
图2    2 号针的S11
从二个探针的S11曲线可以得出如下结果，1 号针频率范围从10 MHz- 30GHz 的回波损耗好于-20dB, 典型值达到-24dB。而对于2号针，频率高于15GHz时，回波损耗差于-20dB，从曲线上可以得到典型值：在24GHz时，为-15.07dB。说明1号针的工作频率可以到达30GHz，而2号针在工作频率高于15GHz时，存在的反射会明显影响阻抗测试的一致性。
2.探针的时域阻抗特性分析。图3是1号针的时域阻抗，图4 是2 号针的时域阻抗。
图3    1 号针的时域阻抗参数
图4    2 号针的时域阻抗参数
利用PLTS软件，能够将器件的频域S参数，转化为时域的阻抗参数，从而得到器件在信号传播路径上的阻抗参数。从二个探针的时域阻抗曲线可以测量到，在0.21ns 处，2 号针有一个高于1 号针的阻抗突变，经过判断，该阻抗突变点的位置在探针2.92mm同轴段与探针前端的过渡连接处。这个阻抗突变点表明2 号针过渡处的阻抗连续性要比1 号针差，其他位置的阻抗特性与1 号针相近。初步判断是因为2 号针连接处的阻抗突变影响了探针的工作频率范围。
s parameter3.探针的响应时间特性分析。图5是1号针的响应时间参数，图6 是2 号针的响应时间
参数。
图5    1 号针的响应时间参数
图6    2 号针的响应时间参数
探针的响应时间特性测试，是利用测试系统提供的上升沿为16ns 时域激励信号，激励探针，测试探针响应后的上升沿时间。测试功能由PLTS软件完成。从测试的参数可以得到：1号针将16ns 的系统上升时间恶化到28ps，2号针将16ns 的系统上升时间恶化到30ps。
通过以上对探针性能的测试与分析，我们了解到利用PNAX和PLTS物理层分析软件，能够测试器件的时域阻抗，从而可以分析器件内部的结构特性。同时又可以利用S参数，得出器件的频域特性以及其工作的频率范围。PLTS软件还可以进一步得到该器件对信号上升沿时间的响应特性。另外，PLTS软件的AFR技术独到之处在于，能够测试得到单端口连接器件(如探针)的全S参数，从而可以详细测试分析其内部结构阻抗、频域和时域参数。
注：以上测试是一次典型的对探针性能参数的测试，其测试结果会受到多个因数的影响，如对探针的短路连接方式、转接头的类型等，都会影响测试结果的准确性。以上测试结果和分析仅供参考。

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