BRUKER AXS GMBH
DIFFRAC TOPAS 4.2            中文教程
德国布鲁克AXS有限公司北京代表处
目录
1.总览------------------------------------------------------1
2.一般谱线拟合方法------------------------------------3 2.1单峰拟合及全谱拟合-------------------------------------3 2.1.1单峰拟合----------------------------------------------------------3 2.1.2利用限制条件进行线形分析----------------------------------8 2.1.3全谱拟合---------------------------------------------------------13 2.2指标化------------------------------------------------------16 2.2.1LSI指标化-------------------------------------------------------16 2.2.2 LP搜索----------------------------------------------------------25 2.3全谱分解---------------------------------------------------36 2.
3.1Pawley法---------------------------------------------------------36 2.3.2Le Bail法---------------------------------------------------------42 2.4 Rietveld 结构精修---------------------------------------45 2.5Rietveld定量分析-----------------------------------------49
2.5.1CPD-2定量分析（择优取向）------------------------------49 2.5.2CPD-3定量分析（非晶相定量）---------------------------58
2.5.3OPC定量分析（水泥定量）---------------------------------63
3.杂项----------------------------------------------------66
3.1计算结晶度------------------------------------------------66
4. 刚体编辑器（晶体结构3D图）------------------72 4.1创建刚体图------------------------------------------------73 4.2利用已知晶体结构数据创建刚体图------------------77 4.3扭曲---------------------------------------------------------79
1.总览
DIFFRAC plus TOPAS：TOtal Pattern Analysis Solutions
Bruker公司衍射图谱线形拟合及结构分析软件，无缝集成目前所有线形分析方法，可实现所有相关应用。
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