SPC精髓总结汇总
目录：一、SPC基础知识介绍
二、计量型数据控制图：X-R 图
三、其它计量型数据控制图
四、计数型数据控制图：P 图
五、其它计数型数据控制图
六、停止灯控制图
一、SPC基础知识介绍
1、什么是SPC
⏹统计过程控制（Statistical Process Control）
⏹第二版2005年7月发布（1992/2005）
⏹版权由戴姆勒克莱斯勒公司、福特汽车公司和通用汽车公司所有
2、SPC的目的
利用统计技术：控制过程、持续改进过程
3、常见的统计技术
⏹旧QC七大手法：柏拉图、因果分析图、直方图、查检表、分层法、控制图、散布图
⏹新QC七大手法：亲和图法、关联图法、系统图法、矩阵图法、矩阵分、析法、PDPC法、箭形图解法
4、SPC与检验的区别
⏹检验：是事后的行为（产品生产后将不合格品挑选出来），是容忍浪费
⏹SPC：是事前或事中的行为（在生产前或生产中有些控制和调整五大生产要素，以避免不合格品的产生），
是避免浪费
5、正态分布图
6、变差的普通原因
⏹普通原因：始终作用于过程的变差的原因为变差的普通原因
⏹例如：一个机加工轴的直径易于受到由于机器（间隙、轴承磨损）、工具（强度、磨损率）、材料（
直径、
硬度）、操作人员（进给速率、对中准确度）、维修（润滑、易损零件的更换）及环境（温度、动力供应是否恒定）等原因造成潜在的变差的影响
⏹针对普通原因的对策：对系统采取措施画直方图的四个步骤
⏹通常用来消除变差的普通原因
⏹几乎总是要求管理措施，以便纠正
⏹大约可纠正85%的过程
7、变差的特殊原因
⏹特殊原因：不是始终作用于过程的变差的原因
⏹即当它们出现时将造成（整个）过程的分布改变。由于特殊原因造成的过程分布的改变有些有害，有些有
利
⏹针对特殊原因的对策：局部措施
⏹通常用来消除变差的特殊原因
⏹通常由与过程直接相关的人员实施
⏹大约可纠正15%的过程问题
8、控制图的构成
USL 上规格线
UCL ----------------------------------------------------------------------上控制线
CL  中线 LCL ----------------------------------------------------------------------下控制线 LSL                                            下规格线
9、 控制图的类型
1、计量型数据控制图
1.1、均值和极差图（ R X -图）    1.2、均值和标准差图（s X -图）
1.3、中位数图（R X -~
图）
1.4、单值和移动极差图（ MR X -图）    2、计数型数据控制图
2.1、不合格品率控制图（P 图）    2.2、不合格品数控制图（NP 图）    2.3、不合格数控制图（C 图）
2.4、单位产品不合格数控制图（U 图）
二计量型数据控制图：R X - 图
1、 实施步骤
A.收集数据：子组大小/子组频率/子组数的大小
B.计算控制限：初始控制线/延长控制线
C.过程控制解释:4种异常情况的判定及对策
D.过程能力解释:PPK/CPK 的计算及要求
2、 子组大小
⏹  子组：每次连续取样的样本
⏹ 子组大小：每次连续取样的样本数量
⏹ 确定子组大小的原则:
— 子组要合理，一般为2-10个、
— 一个子组内的变差代表很短时间内的零件的变差    — 非常相似的生产条件下生产出来的，相互间不存在其      它的系统的关系
— 每个子组内的变差主要应是普通原因造成
3、 子组频率
⏹  子组频率：每次取样的间隔时间 ⏹ 确定子组频率的原则:
— 在适当的时间收集足够的子组来反映过程中的变化    — 过程的初期研究，很短的时间间隔进行分组，以便发觉      短时间的不稳定因子
— 当证明过程已处于稳定状态下(或已对过程进行改        善)，子组间的时间间隔可以增加  4、子组数大
小
⏹  子组数大小：每张控制图的控制点数量 ⏹ 确定子组数大小的原则:
— 在初始阶段不低于100个单值数据    — 在量产阶段一般不少于25个点  5、过程控制解释
1、超出控制限的点
2、连续7点位于平均值的一侧
3、连续7点上升(后点等于或大于前点)或下降
4、明显的非随机图形(大约2/3的描点应落在控制限的中间三分之一的区域内，大约1/3的点落在其外的三分之二的区域)
6、异常情况对策
⏹  当发现异常时，不要随意对过程做不必要的改变 ⏹ 正确的做法是：
— 记录下当时的六大生产要素：人/机/料/法/环/测
— 进行原因分析后，若能到原因采取措施，则记录好所        采取的措施
— 进行原因分析后，若不能到原因采取措施，则密切观察过程的变化 7、过程能力解释
⏹  PPK：初始过程能力指数PPK，也叫性能指数，或短期过程能力指数 ⏹ 其要求是：PPK ＞1.67或满足顾客的要求
⏹ 计算公式为：Ppk=min(      s
s X
USL LSL X σσˆ3,ˆ3--    ) s n
i I n X X S σˆ1)(1
2
=--=∑= ⏹
计算数据为：最少100个数据以上
⏹ 计算时间：小批量试生产阶段，为PPAP 重要文件之一，需要提交给顾客 ⏹ CPK：稳定的过程能力指数CPK，也叫长期过程能力指数 ⏹
其要求是：CPK ＞1.33或满足顾客要求
⏹ 计算公式为:Cpk=min(
22ˆ3,ˆ3R R X
USL LSL X σσ
--        )
⏹ 计算数据为：最好是25组
⏹ 计算时间：批量生产阶段，按照控制计划的规定，一般是每张控制图完成后
三、其它计量型数据控制图
1、均值和标准差控制图
⏹标准差s是过程变异性更有效的指针，尤其是对于样本容量较大（n＞10）的情况，一般来说，当出现下列一
种或多种情况时用s图代替R图:
⏹数据是由计算机按实时时序记录和/或描图的，则s的计算程序容易集成化
⏹有方便适用的袖珍计算器使s的计算能简单按程序算出
⏹使用子组样本容量较大，更有效的变差量度是合适的
2、中位数控制图
⏹中位数图用在子组的样本容量小于或等于10的情况，样本容量为奇数时更方便
⏹如果子组样本容量为偶数，中位数是中间两个数的均值
3、单值和移动极差控制图
⏹测试一个产品的数据所化时间很长
⏹所选取的样本，属于一种极为均匀一致之产品如像液体或气体，测量几个和一个一样
⏹加工一个产品的时间很长
⏹产品价值很高，测试一个样本会损失很多钱
⏹属破坏性试验，每测试一个产品，就损失一个
⏹控制过程参数，如：温度﹑压力﹑时间等
四、计数型数据控制图：P图
1、不合格品率（P图）
实施步骤：
A.收集数据：子组大小/子组频率/子组数的大小
B.计算控制限：初始控制线/延长控制线
C.过程控制解释:4种异常情况的判定及对策
D.过程能力解释：产品合格率或不合格率
2、子组大小
⏹子组：每次连续取样的样本
⏹子组大小：每次连续取样的样本数量
⏹确定子组大小的原则：
●子组要大，如50个到200，甚至更多，以便检验出性
能的一般变化
●一个子组内要包括几个不合格品
●每一个子组代表很长的一段时间的过程操作
●子组容量分为恒定或它们变化不超过±25％，以
及超出±25%二种图形
3、子组频率
⏹子组频率：每次取样的间隔时间
⏹确定子组频率的原则:
—应根据产品的周期确定分组的频率以便帮助分析和纠
正发现的问题﹒时间间隔短则反馈快﹐但也许与大的
子组容量要求矛盾
—一般为每班或每天，用于全检工位的较多
4、子组数大小
⏹为了子组数大小：每张控制图的控制点数量
⏹确定子组数大小的原则：
—在初始阶段不低于100个单值数据
—在量产阶段一般不少于25个点
5、过程控制解释
1、超出控制限的点
2、连续7点位于平均值的一侧
3、连续7点上升(后点等于或大于前点)或下降
4、明显的非随机图形(大约的描点应落在控制限的中间三分之一的区域内，大约的点落在其外的三分之二的区域)

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