(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利说明书
(10)申请公布号 CN 104330830 A
(43)申请公布日 2015.02.04
(21)申请号 CN201410598263.7
(22)申请日 2014.10.30
(71)申请人 正则化坐标中国石油天然气集团公司;中国石油集团东方地球物理勘探有限责任公司
    地址 100007 北京市东城区东直门北大街9号
(72)发明人 赵文举 刘云祥 赵荔
(74)专利代理机构 北京三友知识产权代理有限公司
    代理人 李秀芸
(51)Int.CI
      G01V3/08
      G01V3/38
                                                                  权利要求说明书 说明书 幅图
(54)发明名称
      一种磁性体顶面埋深预测方法及装置
(57)摘要
      本发明涉及一种磁性体顶面埋深预测方法及装置,其中,该方法包括:获取磁力异常;利用所述磁力异常求取垂向一阶导数异常、垂向二阶导数异常、垂向三阶导数异常;从所述磁力异常及垂向一阶导数异常、垂向二阶导数异常、垂向三阶导数异常中提取磁力异常极大值max1、垂向一阶导数异常极大值max2、垂向二阶导数异常极大值max3、垂向三阶导数异常极大值max4,并求
法律状态
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
权 利 要 求 说 明 书
1.一种磁性体顶面埋深预测方法,其特征在于,该方法包括:           
获取磁力异常;           
利用所述磁力异常求取垂向一阶导数异常、垂向二阶导数异常、垂向三阶导数异常;           
从所述磁力异常及垂向一阶导数异常、垂向二阶导数异常、垂向三阶导数异常中提取            磁力异常极大值max1、垂向一阶导数异常极大值max2、垂向二阶导数异常极大值max3、            垂向三阶导数异常极大值max4,并求的值;           
以作为输入,通过BP神经网络输出磁性体顶面埋深。           
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述BP神经网络的创建步骤包括:           
构建长方体磁性模型;           
对所述长方体磁性模型的磁力异常正演计算得到磁力异常值;           
利用所述磁力异常值求取垂向一阶导数、垂向二阶导数、垂向三阶导数异常;           
从所述磁力异常及垂向一阶导数异常、垂向二阶导数异常、垂向三阶导数异常中提取            磁力异常极大值max1、垂向一阶导数异常极大值max2、垂向二阶导数异常极大值max3、            垂向三阶导数异常极大值max4,并求的值;           
建立具有三个输入神经元、一个输出神经元的BP神经网络,利用作为输入,长方体磁性模型的顶面埋深作为输出,训练BP神经网络,并存储训练            好的BP神经网络。           
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述构建长方体磁性模型的步骤包括:           
建立Z轴垂直向下、坐标单位为m的左手空间直角坐标系;           
建立磁化强度、磁化倾角和磁化偏角均相同的长方体磁性模型;其中,所述长方体磁            性模型的规模和深度均不同,长方体磁性模型的边与对应地的坐标轴平行,且所述长方体            磁性模型在空间直角坐标系的XOY面投影的长方形的中点坐标为(20000,20000);所述            长方体磁性模型的Lx的长度从500m开始,按照500m间隔递增,递增至10000m;所述            长方体磁性模型的Ly的长度从500m开始,按照500m间隔递增,递增至与Lx的长度相            等;所述长方体磁性模型的Lz的长度从250m开始,按照250m间隔递增,递增至两倍的            Lx的长度,且Lz的长度最大不得超过5000m;所述长方体磁性模型的顶面埋深Z<sub>0</sub>从500m            开始,按照500m递增,递增至6000m;Lx表示长方体磁性模型中与空间直角坐标系的x                            轴平行的边,Ly表示长方体磁性模型中与空间直角坐标系的y轴平行的边,Lz表示长方            体磁性模型中与空间直角坐标系的z轴平行的边。           
4.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述磁力异常值的计算步骤包括:           
在空间直角坐标系的XOY平面内,x轴方向上和y轴方向上均从0到40000m之间间            隔500m进行采样获取采样点,所述采样点为观测点;           

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